能量色散型微區(qū)X射線熒光光譜儀 μEDX系列

產(chǎn)品型號：μEDX系列
更新時間：2024-03-18
產(chǎn)品介紹：采用的Ｘ射線集束毛細管透鏡，X射線只照射樣品的50μmφ微小領(lǐng)域，從而達到高靈敏度、高精度分析！

μEDX大幅度地提高了傳統(tǒng)的X射線熒光光譜儀無法完成的微小領(lǐng)域分析的靈敏度。配備新開發(fā)的X射線集束毛細管透鏡，實現(xiàn)了Z小分析直徑達50μm的微區(qū)測定，適合半導(dǎo)體/電子部件/食品領(lǐng)域等高靈敏度、高分辨率分析。
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產(chǎn)品介紹

采用島津*的Ｘ射線聚光透鏡[集束毛細管透鏡]，X射線只照射樣品的50μmφ微小領(lǐng)域，實現(xiàn)高靈敏度、高精度分析。
可以在大氣中進行從輕元素到重元素（Na～U：μEDX-1300；Al～U：μEDX-1200/ 1400）的分析。
配備雙CCD（高倍率,低倍率）攝像頭，可以在觀察樣品圖像的同時方便地決定分析位置，進行分析。
標準配備無標樣定量FP法、薄膜成分/膜厚分析用的薄膜FP法以及可以測定聚合物薄膜的背景基本參數(shù)（BG-FP）法。
作為微區(qū)Ｘ射線熒光光譜分析裝置，在世界上*配備了5種1次Ｘ射線濾光片自動交換機構(gòu)，可消除來自Ｘ射線管的特征Ｘ射線，提高信噪比。
配備多元素同時/自動掃描成圖功能。采用高速掃描成圖，在短時間內(nèi)便可獲得圖像（μEDX-1200/1300）。追加透射觀察單元（選購），也可進行透射Ｘ射線的同時測定。
配備電子冷卻式高計數(shù)率檢測器。無需液氮，可進行高精度分析。
（μEDX-1400）
可輕松地進行電子材料/部件的鍍層膜厚測定、異物檢測、失效解析及成圖分析。

μEDX 1.gif μEDX 2.gif
印刷電路板焊接部分的分析手機部件的掃描成圖分析